| 发明名称 |
MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06323844(A) |
申请公布日期 |
1994.11.25 |
| 申请号 |
JP19930114569 |
申请日期 |
1993.05.17 |
| 申请人 |
HITACHI CONSTR MACH CO LTD |
发明人 |
NAGASAWA KIYOSHI;MURAYAMA TAKESHI;IGARASHI TERUO;MORIMOTO TAKASHI |
| 分类号 |
G01B7/34;G01B21/30;G01Q10/02;G01Q10/04;G01Q30/02;H01J37/28;(IPC1-7):G01B21/30 |
主分类号 |
G01B7/34 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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