Halbleiterintegrierte Schaltung mit Prüffunktion.,申请号DE19873750674-传众专利搜索

发明名称	Halbleiterintegrierte Schaltung mit Prüffunktion.
摘要
申请公布号	DE3750674(D1)	申请公布日期	1994.11.24
申请号	DE19873750674	申请日期	1987.12.15
申请人	FUJITSU LTD., KAWASAKI, KANAGAWA, JP	发明人	YAMASHITA, KOICHI, KAWASAKI-SHI KANAGAWA 215, JP
分类号	H01L21/66;G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/3185;G06F11/22;G06F11/27;H01L21/822;H01L27/04;(IPC1-7):G01R31/28	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
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