发明名称 SUBSTRATE FOR SEMICONDUCTOR THERMOSTATIC ACCELERATION TEST DEVICE
摘要
申请公布号 JPH06317630(A) 申请公布日期 1994.11.15
申请号 JP19930105513 申请日期 1993.05.06
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 SAWADA KEIICHI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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