| 发明名称 |
Verfahren und Mittel zur zerstörungsfreien Bestimmung der Schichtdicke von aufgebrachten mineralischen Schichten und/oder der Bestimmung der Lage von unterhalb derartiger mineralischer Schichten verlegten Materialien |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE4312172(A1) |
申请公布日期 |
1994.11.03 |
| 申请号 |
DE19934312172 |
申请日期 |
1993.04.14 |
| 申请人 |
NAUE-FASERTECHNIK GMBH & CO KG, 32312 LUEBBECKE, DE |
发明人 |
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| 分类号 |
B09B1/00;E01B1/00;E01C3/00;E01C5/00;E02B3/16;E02D33/00;G01B7/06;G01B15/02;(IPC1-7):E02D33/00 |
主分类号 |
B09B1/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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