| 发明名称 |
Procédé de test de la résistance par carré de couches diffusées. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
FR2694410(B1) |
申请公布日期 |
1994.10.28 |
| 申请号 |
FR19920009797 |
申请日期 |
1992.07.30 |
| 申请人 |
SGS THOMSON MICROELECTRONICS SA |
发明人 |
BARTHEZ JEAN |
| 分类号 |
G01R31/28;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26;G01R27/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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