发明名称 | 磁卡测试仪 | ||
摘要 | 本发明采用写频可变的时钟与码型产生电路,可以在磁卡上写任何位密度的测试码型,适用于各种类型的磁卡检测。它是保证磁卡生产质量和可靠性,按国际磁卡生产标准生产的重要手段。本发明功能齐全,测试精度高,重复性好,使用方便,数据结果准确,测试时间快和成本低等特点。 | ||
申请公布号 | CN1026367C | 申请公布日期 | 1994.10.26 |
申请号 | CN91103160.X | 申请日期 | 1991.05.10 |
申请人 | 华中理工大学 | 发明人 | 周敬利;余胜生;徐有青;倪浆铭;黄益森 |
分类号 | G11B5/80;G11B25/04 | 主分类号 | G11B5/80 |
代理机构 | 华中理工大学专利事务所 | 代理人 | 周都刚 |
主权项 | 1.一种磁卡测试仪,由如下电路构成,磁头与读/写放大器连接,读/写放大器与隔离器,脉冲整形电路连接;主机与接口连接,接口与A/D及D/A转换器连接,其特征在于,所说的隔离器、A/D及D/A转换器与放大滤波电路相连接,放大滤波电路与可控增益电路相连接,可控增益电路与写电流调节电路连接,写电流调节电路与读/写放大器相连接;所说的时钟频率源与码形产生电路相连接,码形产生电路与调制器相连接。调制器与读/写放大器连接;脉冲整形电路与解调电路连接,解调电路与接口连接。 | ||
地址 | 430074湖北省武汉市珞喻路151号 |