发明名称 磁卡测试仪
摘要 本发明采用写频可变的时钟与码型产生电路,可以在磁卡上写任何位密度的测试码型,适用于各种类型的磁卡检测。它是保证磁卡生产质量和可靠性,按国际磁卡生产标准生产的重要手段。本发明功能齐全,测试精度高,重复性好,使用方便,数据结果准确,测试时间快和成本低等特点。
申请公布号 CN1026367C 申请公布日期 1994.10.26
申请号 CN91103160.X 申请日期 1991.05.10
申请人 华中理工大学 发明人 周敬利;余胜生;徐有青;倪浆铭;黄益森
分类号 G11B5/80;G11B25/04 主分类号 G11B5/80
代理机构 华中理工大学专利事务所 代理人 周都刚
主权项 1.一种磁卡测试仪,由如下电路构成,磁头与读/写放大器连接,读/写放大器与隔离器,脉冲整形电路连接;主机与接口连接,接口与A/D及D/A转换器连接,其特征在于,所说的隔离器、A/D及D/A转换器与放大滤波电路相连接,放大滤波电路与可控增益电路相连接,可控增益电路与写电流调节电路连接,写电流调节电路与读/写放大器相连接;所说的时钟频率源与码形产生电路相连接,码形产生电路与调制器相连接。调制器与读/写放大器连接;脉冲整形电路与解调电路连接,解调电路与接口连接。
地址 430074湖北省武汉市珞喻路151号