发明名称 SURFACE INSPECTION EQUIPMENT FOR WAFER
摘要
申请公布号 JPH06294752(A) 申请公布日期 1994.10.21
申请号 JP19930084446 申请日期 1993.04.12
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 YAMAGUCHI HIROSHI
分类号 G01B11/30;G01N21/88;G01N21/956;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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