发明名称 MEASURING METHOD FOR THERMAL RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH06281693(A) 申请公布日期 1994.10.07
申请号 JP19930108627 申请日期 1993.05.11
申请人 FUJI ELECTRIC CO LTD 发明人 UENO TOSHIO
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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