| 发明名称 |
CHECK MARK FOR DETECTING LAYER DEVIATION OF LAYERED ELECTRONIC PARTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06283381(A) |
申请公布日期 |
1994.10.07 |
| 申请号 |
JP19930093912 |
申请日期 |
1993.03.30 |
| 申请人 |
TAIYO YUDEN CO LTD |
发明人 |
SHIBATA KENJI;HORIE KATSUYUKI;MASHITA YUTAKA |
| 分类号 |
H01F17/00;H01G2/24;H01G4/12;H01G4/30;(IPC1-7):H01G4/30;H01G1/04 |
主分类号 |
H01F17/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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