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发明名称 Schlatungsanordnung für den Funktionstest eines in einem Schaltkreis integrierten Zeitglieds
摘要
申请公布号 DE4214841(C2) 申请公布日期 1994.10.06
申请号 DE19924214841 申请日期 1992.05.05
申请人 TEMIC TELEFUNKEN MICROELECTRONIC GMBH, 74072 HEILBRONN, DE 发明人 WIRTH, JENS, DIPL.-ING. (FH), 7100 HEILBRONN, DE
分类号 G01R31/28;H03K21/40;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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