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发明名称 BURN-IN OF BARE SEMICONDUCTOR CHIP TESTING CARRIER AND METHOD THEREOF
摘要
申请公布号 JPH06273482(A) 申请公布日期 1994.09.30
申请号 JP19930272594 申请日期 1993.10.29
申请人 TEXAS INSTR INC <TI> 发明人 ANSONII EMU CHIU
分类号 G01R31/26;G01R1/04;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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