| 摘要 |
<p>Procédé de mesure des variations d'épaisseur d'un artefact (12) par calcul des orientations angulaires par rapport à trois points de lieu géométrique (30, 32 et 34); ledit procédé comprenant les étapes de positionnement séquentiel (36, 38 et 40) des surfaces (50) définissant la variation d'épaisseur par rapport auxdits trois points et de répétition de ce processus à partir de différentes positions dudit artefact.</p> |
