| 发明名称 |
ELEMENT FOR INSPECTION OF CHARACTERISTIC OF PLANAR TYPE SEMICONDUCTOR ELEMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06268040(A) |
申请公布日期 |
1994.09.22 |
| 申请号 |
JP19930053912 |
申请日期 |
1993.03.15 |
| 申请人 |
KOBE STEEL LTD |
发明人 |
MIZUNO MASAHIRO;MORIYA NAOKI |
| 分类号 |
H01L21/265;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;H01L29/78;(IPC1-7):H01L21/66;H01L29/784 |
主分类号 |
H01L21/265 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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