发明名称 物体浮扬装置及具有该装置之物体搬运装置及其物体浮扬方法
摘要 本发明目皂在提供一限制所操作物体之材质等,并能操作较大重量及尺寸之物体,且小型及价廉,安全性等均佳,而容控之控之物物质浮扬装置及具有该装之物质搬运装置及物质浮扬方法。本发明的构成包含使振动体1激振,由该振动体之管,波之发射压,而在该振动体之表面上使物质7浮场而搬运,得上述效果。
申请公布号 TW230762 申请公布日期 1994.09.21
申请号 TW082108175 申请日期 1993.10.04
申请人 凯久股份有限公司 发明人 桥本芳树
分类号 B06B3/00;B65G53/00 主分类号 B06B3/00
代理机构 代理人 林圣富 台北巿和平东路二段二○三号四楼;陈展俊 台北巿和平东路二段二○三号四楼
主权项 1.一种物体浮扬装置,具有振动体及激振该振动体 之超音 波激振机构,藉该振动体之音波之发射压使物体浮 扬在该 振动体之表面来构成者。2.如申请专利范围第1项 之物体浮扬装置,其中振动体乃 进行挠曲振动或纵振动。3.如申请专利范围第1或2 项之物体浮扬装置,其中振动 体乃形成平板状。4.一种物体搬运装置,具有振动 体,激振该振动体之超音 波激振机构,及使该振动体行走之行走机构,藉该 振动体 之音波之发射压使物体浮扬在该振动体之表面上 而行走所 构成者。5.如申请专利范围第4项之物体搬运装置, 其中振动体乃 其表面对假想水平面倾斜而设,而由于此倾斜使上 述物体 行走。6.如申请专利范围第4项之物体搬运装置,其 中行走机构 乃对上述物体喷射气体之气体喷射机构。7.如申 请专利范围第5项之物体搬运装置,其中行走机构 乃对上述物体喷射气体之气体喷射机构。8.如申 请专利范围第4-7项中任一项之物体搬运装置, 其中行走机构具有对上述物体发射超音波之超音 波发射机 构。9.如申请专利范围第4-7项中任一项之物体搬 运装置, 其中行走机构具有将从上述振动体发射之超音波 向上述物 体反射之反射另件。10.如申请专利范围第4-7项中 任一项之物体搬运装置 ,其中行走机构具有藉将上述超音波激振机构所发 出之超 音波能量变换为电能来将该超音波成为使上述物 体向移动 方向进行之进行波之能量变换机构。11.如申请专 利范围第4-7项中任一项之物体搬运装置 ,其中物体令其行走方向侧与其反向侧重量分配不 同,更 以从上述振动体发射而在该物体之下面反射之反 射波之推 进力来使该物体行走。12.如申请专利范围第4-7项 中任一项之物体搬运装置 ,其中物体在下面形成凹凸,藉从上述振动体发射 而由凹 凸反射之反射波之推进力来使该动体行走。13.如 申请专利范围第4-7项中任一项之物体搬运装置 ,其中沿该物体搬运路两侧配置音波反射另件,藉 从上述 振动体发射而由该音波反射另件反射之音波来防 止该物体 从该搬运路脱离。14.如申请专利范围第4-7项中任 一项之物体搬运装置 ,其中将防止该物体从搬运路脱离之防止脱离另件 与该振 动体间隔而设。15.如申请专利范围第4-7项中任一 项之物体搬运装置 ,其中物体之搬运路连续地并设多数台。16.一种物 体浮扬方法,其特征为激振振动体,藉该振动 体之音波发射压使物体浮扬在该振动体之表面上 。图1为 本发明第1实施例之物体搬运装置之含部分断面之 正面图 。图2为图1所示物体搬运装置之平面图。图3为图1 之 D-D剖视图。图4为图1中部分E之放大图。图5为由图 1-3物体搬运装置搬运之物体之其他构成之图。图6 为 图1-3物体搬运装置之动作说明图。图7为本发明之 第 2实施例之物体搬运装置之要部之正面图。图8为 本发明 第3实施例之物体搬运装置之要部之正面图。图9 为本发 明第4实施例之物体搬运装置之要部之正面图。图 10为本 发明第5实施例之物体搬运装置之含部分断面之正 面图。 图11为本发明第6实施例之物体搬运装置之含部分 断面之 正面图。图12为本发明第7实施例之物体搬运装置 之含部 分断面之正面图。图13为图12中部分G之放大图。 图14乃 示图1-13所示各实施例之物体搬运装置,其部分变 形例 之侧面图。图15乃示物体搬运装置多数台并列之 状态,含 部分断面之正面图。图16乃示本发明物体浮扬装 置之要部 及施行有关该装置之测定之测定装置之概略之正 面图。图 17为供图16所示测定装置测定之供试体之斜视图,t1 =0. 49mm;d1=96.84mm。图18为供图16所示测定装置测定之供 试体之斜视图,L=90mm;W=65mm。图19为供图16所示测定 装置测定之供试体之斜视图,C;四个贯通孔);C;深度 ;;;。图20为供图16所示测定装置测定之供试体之斜 视 图,E=附属另件;C;C四个贯通孔。图21为供图16所示 测 定装置测定之供试体之斜视图,C;深度;四个贯通孔 ; ;贯通孔;;t2=10.0mm;t3=19.7mm。图22为供图16所示 测定装置测定之供试体之斜视图,E=附属另件;C;C四 个 贯通孔;;。图23为供图16所示测定装置测定之供试 体之 斜视图,E=附属另件;C;C四个贯通孔;;深度;;。图 24乃示由图16之测定装置所得之测定结果之图。图 25乃示 由图16之测定装置所得之测定结果之图。图26为由 图1- 13所示各实施例之物体搬运装置搬运之矽晶片及 搭载该矽 晶片之载体之斜视图。图27乃示习用物体浮扬装 置之概略
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