发明名称 Measuring system for determining the surface unevenness off a workpiece.
摘要 Die Erfindung bezieht sich auf ein Meßsystem zur Abtastung der Oberfläche eines Meßobjektes (7) mittels eines flächig abtastenden Distanzsensors (1). Der Sensor (1) und das Meßobjekt (7) werden relativ zueinander bewegt. Die Ausdehnung (2) der Abtastfläche des Sensors (1) in Bewegungsrichtung (10) ist größer gewählt als die kleinste Ausdehnung (8) der Struktur (9), die noch erfaßt werden soll. Bei diesem Größenverhältnis wird die Struktur (9) nicht mehr in voller Größe wiedergegeben wird. Um aus dieser nicht mehr korrekten Information trotzdem eine Aussage über die Ausdehnung (8) zu erhalten, wird der Anteil des Ausgangssignales des Sensors (1), der durch Struktur (9) auf der Oberfläche des Meßobjektes entsteht, über dem Weg der Bewegung integriert. <IMAGE>
申请公布号 EP0616191(A1) 申请公布日期 1994.09.21
申请号 EP19940101517 申请日期 1994.02.02
申请人 SEICHTER GMBH 发明人 TRAUERNICHT, HERBERT
分类号 G01B7/28;G01B7/34;(IPC1-7):G01B7/28 主分类号 G01B7/28
代理机构 代理人
主权项
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