发明名称 | 衍射型光束列阵波前校正器 | ||
摘要 | 本实用新型提供了一种衍射型光束列阵波前校正器。它通过计算机设计单元透镜的位相结构,经多次光刻和离子束刻蚀制作多位相级菲涅尔透镜列阵器件,配以精密的安装调节机构,可作为激光二极管列阵输出的波前校正器。衍射特征和制作方法决定了本实用新型的集光效率高,波前校正精确,且结构紧凑,安装调校方便。 | ||
申请公布号 | CN2177953Y | 申请公布日期 | 1994.09.21 |
申请号 | CN93226365.8 | 申请日期 | 1993.09.28 |
申请人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明人 | 郭晴;王汝笠;郭中原;傅艳红;陈高峰;王君 |
分类号 | G02B27/00;G02B26/00 | 主分类号 | G02B27/00 |
代理机构 | 中国科学院上海专利事务所 | 代理人 | 高毓秋 |
主权项 | 1、一种衍射型光束列阵波前校正器,包括位相型菲涅尔透镜列阵器件和配置的安装调节机构,其特征在于:a.所说的位相型菲涅尔透镜列阵器件的最细线宽为0.5微米;最大列阵为200×200元;b.所说的位相型菲涅尔透镜列阵器件为多阶位相结构,位相量化级次为二阶,或四阶,或八阶,或十六阶;c.所说的位相型菲涅尔透镜列阵器件的单元为方形,或矩形、六角形;单元线度为0.05-1.5毫米;d.所说的位相型菲涅尔透镜列阵器件的基片为石英,或硅,或碲镉汞等半导体材料制成。 | ||
地址 | 200083上海市中山北一路420号 |