| 发明名称 |
TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR STORAGE ELEMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06259994(A) |
申请公布日期 |
1994.09.16 |
| 申请号 |
JP19940017595 |
申请日期 |
1994.02.14 |
| 申请人 |
GOLD STAR ELECTRON CO LTD |
发明人 |
YASU EISHIYOU |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G11C29/00;G11C29/26;G11C29/34;G11C29/38;(IPC1-7):G11C29/00;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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