发明名称 |
HIGH-FREQUENCY MEASURING METHOD USING PROBE AND HIGH-FREQUENCY PROBER |
摘要 |
|
申请公布号 |
JPH06258344(A) |
申请公布日期 |
1994.09.16 |
申请号 |
JP19930045451 |
申请日期 |
1993.03.05 |
申请人 |
SUMITOMO ELECTRIC IND LTD |
发明人 |
FUJIHIRA MITSUAKI |
分类号 |
G01R1/06;H01R11/01;H01R11/11;(IPC1-7):G01R1/06 |
主分类号 |
G01R1/06 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|