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经营范围
发明名称
LSI INSPECTION DEVICE AND LSI INSPECTION METHOD
摘要
申请公布号
JPH06230082(A)
申请公布日期
1994.08.19
申请号
JP19930014436
申请日期
1993.02.01
申请人
SHARP CORP
发明人
NISHIKAWA SHIGEKI
分类号
G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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