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发明名称
PARALLEL TEST CIRCUIT FOR TESTING MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号
KR1019940007240(B1)
申请公布日期
1994.08.10
申请号
KR1019920002646
申请日期
1992.02.21
申请人
发明人
分类号
主分类号
代理机构
代理人
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