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发明名称 TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH06201795(A) 申请公布日期 1994.07.22
申请号 JP19920348106 申请日期 1992.12.28
申请人 MATSUSHITA ELECTRON CORP 发明人 DOI ATSUSHI;NAKAMURA AKIO
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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