发明名称 |
SCANNING TUNNEL MICROSCOPE AND ANALYZING METHOD OF ATOM ON SURFACE OF SAMPLE BY THE MICROSCOPE |
摘要 |
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申请公布号 |
JPH06201584(A) |
申请公布日期 |
1994.07.19 |
申请号 |
JP19930004620 |
申请日期 |
1993.01.14 |
申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT> |
发明人 |
KAKAZU MAKOTO;KOBAYASHI NAOKI |
分类号 |
G01N21/63;G01N23/225;G01N37/00;G01Q30/02;G01Q60/10;G01Q60/16;(IPC1-7):G01N21/63 |
主分类号 |
G01N21/63 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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