| 发明名称 |
TESTING APPARATUS AND METHOD OF FUNCTION OF IC |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06194414(A) |
申请公布日期 |
1994.07.15 |
| 申请号 |
JP19920346964 |
申请日期 |
1992.12.25 |
| 申请人 |
MITSUBISHI ELECTRIC CORP |
发明人 |
YAMASHITA EISAKU;OMURA TAKASHI |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3193;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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