Verfahren zur Charakterisierung von Materialien für die Verwendung in der Resonanz-Magnetometrie, Spektrometer für diese Charakterisierung und Verfahren zur Eichung dieses Spektrometers.,申请号DE19896012247T-传众专利搜索

发明名称	Verfahren zur Charakterisierung von Materialien für die Verwendung in der Resonanz-Magnetometrie, Spektrometer für diese Charakterisierung und Verfahren zur Eichung dieses Spektrometers.
摘要
申请公布号	DE68912247(T2)	申请公布日期	1994.07.07
申请号	DE19896012247T	申请日期	1989.07.19
申请人	COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE, PARIS	发明人	DURET, DENIS, F-38000 GRENOBLE;BERANGER, MARC, F-38240 MEYLAN
分类号	G01R33/24;G01R33/60;(IPC1-7):G01R33/24	主分类号	G01R33/24
代理机构		代理人
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