| 摘要 |
<p>Bei einem Verfahren und einer Vorrichtung zum Nachweis von Oberflächenplasmonen werden diese in eine dünne Materialschicht durch in einem Bestrahlungsbereich der Materialschicht zugeführte Strahlungsenergie angeregt und geben bei ihrem Zerfall eine einer Temperaturerhöhung in der Materialschicht hervorrufende Zerfallwärme ab. Um den Nachweis der Oberflächenplasmonen technisch zu vereinfachen und gleichzeitig insbesondere ein gutes laterales und zeitliches Auflösungsvermögen zu erzielen, mißt ein der Materialschicht zugeordneter, elektrothermischer Sensor einen sich simultan zur Temperaturerhöhung verändernden physikalischen Parameter der Materialschicht im Bestrahlungsbereich und gibt ein diesem Parameter entsprechendes Signal ab. Insbesondere wird zum Nachweis der Oberflächenplasmonen ein Ultradünnfilmthermometer als Sensor eingesetzt. Verfahren und Vorrichtung sind insbesondere auf dem Gebiet der Biosensorik und Immunosensorik einsetzbar.</p> |
