发明名称 | 定量检测细长导磁构件缺陷的装置和方法 | ||
摘要 | 本发明是一种定量检测细长导磁构件缺陷的装置和方法。由磁化器、漏磁检测器、位移测量与编码器、信号预处理器、模/数转换器、计算机辅助分析系统等组成。漏磁检测器由一对或一对以上的聚磁环和一个或一个以上的磁敏感元件组成。安置在磁化器极靴的中间,聚磁环上有凸台。位移测量与编码器与磁化器和漏磁检测器固联在一起,每隔一定空间间隔向模/数转换器和计算机辅助分析系统发出一个触发脉冲,由计算机记录检测信号输出缺陷的实际情况。 | ||
申请公布号 | CN1089033A | 申请公布日期 | 1994.07.06 |
申请号 | CN92115277.9 | 申请日期 | 1992.12.30 |
申请人 | 华中理工大学 | 发明人 | 康宜华;杨克冲;黄锐;卢文祥;杨叔子 |
分类号 | G01N27/82;G01B7/04 | 主分类号 | G01N27/82 |
代理机构 | 华中理工大学专利事务所 | 代理人 | 杨为国 |
主权项 | 1、一种定量检测细长导磁构件缺陷的装置,由磁化器、漏磁检测器、位移测量与编码器、信号预处理器、模/数转换器、计算机辅助分析系统、显示器和打印机构成,其特征在于,所说的漏磁检测器由一对或一对以上的聚磁环组成,在聚磁环之间安置有一个或一个以上的磁敏感元件,聚磁环安置在磁化器两极的正中。 | ||
地址 | 430074湖北省武汉市武昌珞喻路151号 |