| 发明名称 |
A method of testing a semiconductor device |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
GB2247565(B) |
申请公布日期 |
1994.07.06 |
| 申请号 |
GB19900018448 |
申请日期 |
1990.08.22 |
| 申请人 |
* THE GENERAL ELECTRIC COMPANY P L C;* GEC-MARCONI LIMITED |
发明人 |
DAVID JOHN * PEDDER |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
