| 发明名称 |
THERMAL ENVIRONMENT TESTING EQUIPMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06182235(A) |
申请公布日期 |
1994.07.05 |
| 申请号 |
JP19920343911 |
申请日期 |
1992.12.24 |
| 申请人 |
HITACHI LTD;HITACHI SHIMIZU ENG KK |
发明人 |
SONODA HIDEHIRO;ONO MASATOSHI |
| 分类号 |
B01L7/00;F24F11/02;F25B7/00;G01N17/00;(IPC1-7):B01L7/00 |
主分类号 |
B01L7/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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