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发明名称 Vorrichtung und Verfahren zum Testen der Funktion einer integrierten Schaltung
摘要
申请公布号 DE4344294(A1) 申请公布日期 1994.06.30
申请号 DE19934344294 申请日期 1993.12.23
申请人 MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO 发明人 YAMASHITA, EISAKU, ITAMI, HYOGO;OMURA, RYUUJI, ITAMI, HYOGO
分类号 G01R31/28;G01R31/3193;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/30 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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