| 摘要 |
L'invention concerne le test des circuits intégrés sur tranche. <BR/> Pour faciliter le test, on prévoit sur la tranche une zone de circuit de test (24) comportant des plots de contact (28) sur lesquels peuvent être appliqués les pointes d'un testeur, un démultiplexeur (30) pour transmettre des stimuli de test à un bus parmi N à la sortie du démultiplexeur. Les bus de sortie du démultiplexeur s'étendent entre les lignes de puces sur la tranche. Des conducteurs de sélection de colonne s'étendent entre les colonnes de puces. Le démultiplexeur (30) et un décodeur de colonne (32), tous deux commandés directement par le testeur, permettent de sélectionner une puce (22) et une seule pour la tester. Les pointes de test ne sont pas déplacées d'une puce a la suivante. La tranche est ensuite découpée en puces individuelles. |
