发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur interferometrischen Absolutprüfung von Planflächen.
摘要
申请公布号 DE59101691(D1) 申请公布日期 1994.06.30
申请号 DE19915001691 申请日期 1991.01.19
申请人 FA. CARL ZEISS, 73447 OBERKOCHEN 发明人 KUECHEL, MICHAEL, DR., W-7082 OBERKOCHEN
分类号 G01B11/30;(IPC1-7):G01B11/30 主分类号 G01B11/30
代理机构 代理人
主权项
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