| 发明名称 |
METHOD OF MAKING STANDARDS FOR CALIBRATION OF SILICIUM RESISTANCE MEASURING CIRCUITS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL164030(B1) |
申请公布日期 |
1994.06.30 |
| 申请号 |
PL19910289422 |
申请日期 |
1991.03.15 |
| 申请人 |
INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIALOW ELEKTRONICZNYCH |
发明人 |
BRZOZOWSKI ANDRZEJ |
| 分类号 |
G01R27/00;G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R27/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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