| 发明名称 |
Circuit and method for self-testing a memory in a gate array with a bidirectional symmetry. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0323438(B1) |
申请公布日期 |
1994.06.15 |
| 申请号 |
EP19890101746 |
申请日期 |
1984.11.14 |
| 申请人 |
HUGHES AIRCRAFT COMPANY |
发明人 |
ANGLETON,JOSEPH L.;GUTGSELL,JEFFERY L. |
| 分类号 |
G06F11/267;G06F12/04;G11C8/12;G11C29/10;G11C29/18;G11C29/36;H01L27/118;(IPC1-7):G11C29/00;H01L21/108;G11C8/00 |
主分类号 |
G06F11/267 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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