发明名称 | Δ-掺杂量子阱场效应晶体管的制作方法 | ||
摘要 | 一种制作Δ-掺杂量子阱场效应晶体管的工艺方法,该晶体管包括:一基片、超晶格、缓冲层、量子阱、覆盖层以及欧姆接触层。在欧姆层上形成漏极、源极和栅极。各量子阱均按下述方式形成:用有机金属化学汽相淀积工艺在低反应压力下形成第一GaAs层;然后将Si杂质,如SiH4或Si2H6呈Δ-掺杂掺入层内,再用相同的淀积工艺,在同样条件下形成第二CaAs层,从而形成本发明的CaAs/AlGaAsΔ-掺杂量子阱场效应晶体管。 | ||
申请公布号 | CN1025091C | 申请公布日期 | 1994.06.15 |
申请号 | CN92105604.4 | 申请日期 | 1992.07.11 |
申请人 | 浦项综合制铁株式会社;产业科学技术研究所 | 发明人 | 丁润夏;郑东皓;张景植 |
分类号 | H01L29/92;H01L21/337 | 主分类号 | H01L29/92 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 姜华 |
主权项 | 1.一种制作Δ-掺杂量子阱场效应晶体管的工艺方法,包括:依次形成基片、超晶格、缓冲层、量子阱、覆盖层以及欧姆层等各工艺步骤,以及在所述覆盖屋上和在所述欧姆层上,用金属化和剥离工艺形成源极、漏极以及栅极等各工艺步骤,所说的量子阱的形成步骤进一步包括:将三甲基镓和胂引入一反应腔内的步骤;通过使用有机化学汽相淀积工艺形成一个第一GaAs量子阱的步骤;将Si杂质掺入所述第一量子阱的步骤;以及将三甲基镓和胂引入所说的反应腔内,在与形成所述第一量子阱时相同的条件下,形成一个第二量子阱的步骤。 | ||
地址 | 韩国庆尚北道 |