Method of testing the crosstalk behaviour of digital memories.

摘要

Bei einem Verfahren zum Testen des Übersprechverhaltens von digitalen Speichern (SP) wird zunächst in aufsteigender und dann in absteigender Reihenfolge jede Speicherzelle bezüglich des eingeschriebenen Bit-Musters überprüft und unmittelbar darauf mit dem Komplementärmuster beschrieben, welches dann in der gleichen Reihenfolge überprüft wird. Damit läßt sich die Zahl der benötigten Schreib- und Prüfvorgänge auf 5n bzw. 4n reduzieren. <IMAGE>