发明名称 METHOD OF FLAW DETECTION ON SILICON SURFACE
摘要
申请公布号 RU1639341(C) 申请公布日期 1994.06.15
申请号 SU19894684854 申请日期 1989.02.28
申请人 NAUCHNO-ISSLEDOVATELSKIJ INSTITUT "PULSAR" 发明人 RUSAK T.F.;ENISHERLOVA-VELYASHEVA K.L.
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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