发明名称 PATTERN DATA OUTPUT CIRCUIT OF IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH06167545(A) 申请公布日期 1994.06.14
申请号 JP19920343321 申请日期 1992.11.30
申请人 ANDO ELECTRIC CO LTD 发明人 KOMATSU RIYOUGO
分类号 G01R31/3183;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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