| 摘要 |
Le procédé de mesure d'angles entre une plate-forme de mesure et des points de mesure suppose au moins l'existence d'un rayon lumineux (f1, f2) s'appliquant en éventail sur une bande plane. Cet éventail lumineux subit un pivotement autour d'un axe de la plate-forme de mesure. Grâce à des moyens de réflexion appliqués aux points de mesure, la lumière est réfléchie sur la plate-forme de mesure, dès que l'éventail lumineux frappe ces moyens de réflexion. Dans la plate-forme de mesure sont prévus des compteurs comptant chacun en permanence jusqu'à l'apparition d'un signal de réflexion dans ladite plate-forme. Chaque signal de réflexion qui suit, stoppe le compteur prévu immédiatement à la suite. Un compteur est prévu de manière à compter, avec la même cadence de comptage, dans une période de temps correspondant au domaine angulaire total prédéfini, durant laquelle les points de mesure doivent être déterminés. La valeur angulaire du point de mesure correspondant est calculée à partir des rapports entre les positions des compteurs stoppés par les signaux de réflexion, et la position du compteur continuant à compter. Avantageusement, il est prévu deux éventails lumineux (f1, f2) formant entre eux, de préférence, un angle droit. |
