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发明名称 METHOD FOR INSPECTING ALLOWANCE INPUT VOLTAGE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH06160494(A) 申请公布日期 1994.06.07
申请号 JP19930225348 申请日期 1993.09.10
申请人 TOSHIBA CORP 发明人 KAWASAKI SOICHI
分类号 G01R31/319;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
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