发明名称 MOS memory cell with exponentially-profiled doping and offset floating gate tunnel oxidation.
摘要
申请公布号 EP0384275(B1) 申请公布日期 1994.06.01
申请号 EP19900102847 申请日期 1990.02.14
申请人 NATIONAL SEMICONDUCTOR CORPORATION 发明人 ARONOWITZ, SHELDON;FORSYTHE, DONALD D.;WALKER, GEORGE P.;GADEPALLY, BAHSKAR V.S.
分类号 H01L21/8247;H01L27/115;H01L29/10;H01L29/36;H01L29/788;H01L29/792;(IPC1-7):H01L29/788 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人
主权项
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