发明名称 METHOD OF DETERMINATION OF CONTENT OF IMPURITY IN CRYSTALLINE SILICON
摘要
申请公布号 RU2013821(C1) 申请公布日期 1994.05.30
申请号 SU19914951394 申请日期 1991.06.27
申请人 NAUCHNO-ISSLEDOVATELSKIJ FIZIKO-KHIMICHESKIJ INSTITUT IM.L.YA.KARPOVA 发明人 LOZOVSKIJ ALEKSANDR D;PANESH ANATOLIJ M;SIMONOV ALEKSANDR P
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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