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发明名称 Schaltung zur Prüfung des Eingangsspannungssignals für eine halbleiterintegrierte Schaltung.
摘要
申请公布号 DE3788586(T2) 申请公布日期 1994.05.26
申请号 DE19873788586T 申请日期 1987.03.25
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, KAWASAKI, KANAGAWA 发明人 KAWASAKI, SOICHI C/O PATENT DIVISION, MINATO-KU TOKYO 105
分类号 G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28;G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
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