THICKNESS MEASURING METEHOD USING RADIATION,申请号JP19920295521-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	THICKNESS MEASURING METEHOD USING RADIATION
摘要
申请公布号	JPH06147871(A)	申请公布日期	1994.05.27
申请号	JP19920295521	申请日期	1992.11.05
申请人	KUBOTA CORP	发明人	INOUE SHIZUO;TANAKA NAOYA
分类号	G01B15/02;(IPC1-7):G01B15/02	主分类号	G01B15/02
代理机构		代理人
主权项
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