PROBE FOR MEASURING THERMOPHYSICAL VALUE OF THIN FILM,申请号JP19920293191-传众专利搜索

发明名称	PROBE FOR MEASURING THERMOPHYSICAL VALUE OF THIN FILM
摘要
申请公布号	JPH06138062(A)	申请公布日期	1994.05.20
申请号	JP19920293191	申请日期	1992.10.30
申请人	NEC CORP	发明人	OKUDA SHINICHI
分类号	G01K7/22;G01N25/18;(IPC1-7):G01N25/18	主分类号	G01K7/22
代理机构		代理人
主权项
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