发明名称 |
METHOD FOR INSPECTING SURFACE DEFECT AND ITS DEVICE |
摘要 |
|
申请公布号 |
JPH06123707(A) |
申请公布日期 |
1994.05.06 |
申请号 |
JP19920271708 |
申请日期 |
1992.10.09 |
申请人 |
FUJI XEROX CO LTD |
发明人 |
HIRONO AYUMI;MUNAKATA HIDEAKI |
分类号 |
G01B11/30;G01N21/88;G01N21/952;(IPC1-7):G01N21/88 |
主分类号 |
G01B11/30 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|