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发明名称 CIRCUIT AND METHOD FOR SETTING TEST MODE
摘要
申请公布号 JPH06118143(A) 申请公布日期 1994.04.28
申请号 JP19920263301 申请日期 1992.10.01
申请人 MATSUSHITA ELECTRON CORP 发明人 MASUDA MASASHI
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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