MEASUREMENT OF MATERIAL PROPERTIES WITH OPTICALLY INDUCED PHONONS.

摘要

On analyse des échantillons se présentant sous la forme de films polymères (20) à l'aide de phonons induits optiquements par excitation de l'échantillon au moyen d'un rayonnement (32, 34) de préférence absorbé par l'échantillon et du rayonnement d'une sonde (48) de préférence non absorbé par l'échantillon, lequel est diffracté à partir de la surface de l'échantillon. La largeur d'impulsion de la sonde est de préférence de l'ordre du signal de diffraction détectable de manière que l'évanescence du phonon à partir de chaque impulsion d'excitation peut être détectée (58) et analysée (64). La technique est applicable à divers échantillons par induction d'une morphologie d'ondulation sur la surface de l'échantillon et détection de la lumière diffractée à partir de l'ondulation de surface.