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发明名称
METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号
JPH06112288(A)
申请公布日期
1994.04.22
申请号
JP19920256178
申请日期
1992.09.25
申请人
FUJITSU LTD;FUJITSU VLSI LTD
发明人
TOMITA KAZUHIRO
分类号
G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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