| 发明名称 |
CIRCUIT AND METHOD FOR TEST DETECTION AND INTERRUPTION FOR BICMOS INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06102309(A) |
申请公布日期 |
1994.04.15 |
| 申请号 |
JP19930159293 |
申请日期 |
1993.06.29 |
| 申请人 |
INTERNATL BUSINESS MACH CORP <IBM> |
发明人 |
JIININ FUARA EIKIKI;CHIYAARUZU HOITSUTONII HANSON |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/30;G01R31/3163;H03K19/00;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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