发明名称 Halbleiterfehlertester.
摘要
申请公布号 DE3884040(T2) 申请公布日期 1994.04.14
申请号 DE19883884040T 申请日期 1988.04.08
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP., ARMONK, N.Y., US 发明人 SPROGIS, EDMUND JURIS, JERICHO VERMONT 05465, US
分类号 H01L21/66;G01R31/02;G01R31/28;G11C29/24;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
地址